通用誤碼分析儀
PBT8856
400G 臺(tái)式誤碼分析儀
特點(diǎn)
碼型豐富
支持PRBS 7/9/11/13/15/16/23/31, PRBS7~31Q SSPRQ/JP03A/JP03B/LIN/方波/CJT/自定義碼型等
速率范圍寬
速率支持范圍：20.625-30Gbaud
強(qiáng)大數(shù)據(jù)分析功能
靈活的數(shù)據(jù)庫(kù)管理功能, 協(xié)助研發(fā)深度分析數(shù)據(jù)
充分匹配ATE應(yīng)用場(chǎng)景
支持多臺(tái) ATE 主機(jī)并行程控功能與優(yōu)勢(shì)
FEC Simulation
PreBER/PostBER 測(cè)量
實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)監(jiān)控
實(shí)時(shí)誤碼監(jiān)控
歷史數(shù)據(jù)查詢
歷史數(shù)據(jù)查詢| 參數(shù)名稱 | 參數(shù)類型 | 指標(biāo) |
| 碼型發(fā)生器指標(biāo) | 輸出類型 | 差分/單端/PAM4/NRZ |
| 終端 | AC-交流耦合，100Ω +/- 10% | |
| 數(shù)據(jù)碼型 |
PRBS 7/9/11/13/15/16/23/31, PRBS7~31Q； SSPRQ, JP03A, JP03B, LIN, 方波, CJT, 自定義碼型(64 bits)等; |
|
| 符號(hào)速率(Gbaud)[1] | 20.625/24.33/25/25.78125/26.5625/27.89/27.95/28.05/28.125/28.2/28.9/30 | |
| 頻率精度(典型值) | ±50 ppm | |
| 輸出幅度(差分)[2] | 800 mVp-p/1200 mVp-p[3] | |
| 上升時(shí)間(20–80%)[4] | <15 ps | |
| 下降時(shí)間(20–80%)[4] | <15 ps | |
| 隨機(jī)抖動(dòng)(Random Jitter) | <350 fs | |
| 連接器 | 2.92 mm female, 50 Ω |
| 參數(shù)名稱 | 參數(shù)類型 | 指標(biāo) |
| 觸發(fā)輸出指標(biāo) | 輸出幅度 | ＞300mVp-p |
| 輸出類型 | 交流耦合，單端 | |
| 分頻比 | 4/8/16/32/64/128 | |
| 連接器 | 2.92 mm female，50 Ω |
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Details
半導(dǎo)體前道檢測(cè)主要用于晶圓加工環(huán)節(jié)，目的是檢查每一步制造工藝后晶圓產(chǎn)品的加工參數(shù)是否達(dá)到設(shè)計(jì)的要求或者存在影響良率的缺陷，半導(dǎo)體后道測(cè)試設(shè)備主要是用在晶圓加工之后、封裝測(cè)試環(huán)節(jié)內(nèi)，目的是檢查芯片的性能是否符合要求，屬于電性能的檢測(cè)。聯(lián)訊儀器提供晶圓老化及半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試機(jī)等集成解決方案，能夠滿足客戶日益增長(zhǎng)的多樣化需求。
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