突發(fā)誤碼分析儀
rBT1250
10G 突發(fā)誤碼分析儀
聯(lián)訊儀器rBT1250專門針對(duì)無源光網(wǎng)絡(luò)(PON)應(yīng)用的光線路終端(OLT)測(cè)試，支持1.25G EPON、GPON、2.5G XGPON、Combo-PON、10G EPON及10G XGSPON突發(fā)誤碼測(cè)試及分析。
特點(diǎn)
兼容性高
支持10.3125 GBaud及以下各種PON OLT 速率
支持Combo-PON 測(cè)試
雙reset信號(hào)，支持Combo-PON測(cè)試
SD 測(cè)試
每個(gè)通道單獨(dú)LOS監(jiān)測(cè)/SD監(jiān)測(cè)/LOS判斷
內(nèi)置時(shí)鐘恢復(fù)
可工作在真實(shí)的長(zhǎng)纖環(huán)境中，避免長(zhǎng)纖對(duì)時(shí)延及抖動(dòng)的影響功能與優(yōu)勢(shì)
雙包測(cè)試
各數(shù)據(jù)包有不同衰減，不同數(shù)據(jù)包相位間存在跳變，數(shù)據(jù)包中存在長(zhǎng)連“1”、“0”；
內(nèi)置時(shí)鐘恢復(fù)，支持長(zhǎng)纖測(cè)試
內(nèi)置時(shí)鐘恢復(fù)使得rBT1250可以工作在真實(shí)的長(zhǎng)纖工作環(huán)境中，這在業(yè)內(nèi)普遍使用的其它方案中基本無法實(shí)現(xiàn)，因?yàn)槟切┫到y(tǒng)不支持時(shí)鐘恢復(fù)，不能夠適應(yīng)長(zhǎng)纖對(duì)時(shí)延及抖動(dòng)的影響。|
參數(shù)名稱 |
參數(shù)類型 |
指標(biāo) |
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碼型發(fā)生器指標(biāo) |
輸出類型 |
差分/單端NRZ |
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終端 |
交流耦合 |
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輸出阻抗 |
100 ? ± 10% |
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數(shù)據(jù)碼型 |
PRBS7，23，31，用戶自定義碼型及CID碼型(64~88bits) |
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突發(fā)信號(hào)速率(GBaud) [1] |
1.25/2.5/9.953/10.3125 |
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預(yù)加重 |
支持3-taps |
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輸出幅度(差分) |
100-600mVpp (typical) [2] |
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上升時(shí)間 [3] (20–80%) |
<40ps (typical) |
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下降時(shí)間 [3] (20–80%) |
<40ps (typical) |
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抖動(dòng) [4] (p-p) |
<12ps (typical) |
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激光使能信號(hào)（TXEN） |
LVTTL 3.3V，電平可配置 |
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復(fù)位觸發(fā)信號(hào)（Reset） |
LVTTL 3.3V，電平、觸發(fā)位置和寬度可調(diào) |
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連接器 |
SMA |
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輸出幅度 |
>250 mVp-p |
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輸出類型 |
交流耦合，單端 |
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分頻比 |
64 |
[1]覆蓋EPON和GPON測(cè)試速率
[2]發(fā)射端凈測(cè)量值，默認(rèn)預(yù)加重/去加重參數(shù)
[3]以10.3125 GBaud NRZ信號(hào)測(cè)量
[4]抖動(dòng)分離后測(cè)量峰峰抖動(dòng)
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參數(shù)名稱 |
參數(shù)類型 |
指標(biāo) |
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誤碼探測(cè)器指標(biāo) |
輸入類型 |
差分 NRZ |
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終端 |
AC－交流耦合 |
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輸入阻抗 |
100 ? ±10% |
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接收幅度(差分) [1] |
100~800 mVp-p (typical) |
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接收靈敏度(差分) [1] |
100 mVp-p (typical) |
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|
數(shù)據(jù)碼型 |
PRBS7，23，31, CID碼型(64~88bits) |
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突發(fā)信號(hào)速率(GBaud) [2] |
1.25/2.5/9.953/10.3125 |
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時(shí)鐘模式 |
內(nèi)置時(shí)鐘恢復(fù) |
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連接器 |
SMA |
[1]模塊測(cè)量值過高電壓輸入可能會(huì)損傷接收機(jī)
[2]覆蓋EPON和GPON速率
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rBT1250 X-PON突發(fā)信號(hào)誤碼測(cè)試儀-使用說明書同類推薦
光通信網(wǎng)絡(luò)作為信息通信的基礎(chǔ)設(shè)施，對(duì)我國(guó)大數(shù)據(jù)、云計(jì)算、5G通信等市場(chǎng)的快速發(fā)展起重要的承載支撐作用，聯(lián)訊儀器光通訊儀表深度覆蓋光模塊光器件等核心產(chǎn)品的測(cè)試測(cè)量，包括采樣示波器，誤碼儀，波長(zhǎng)計(jì)，光譜儀，流量?jī)x以及通用光測(cè)量?jī)x表等，提供經(jīng)濟(jì)高效的完整解決方案。
Details
半導(dǎo)體前道檢測(cè)主要用于晶圓加工環(huán)節(jié)，目的是檢查每一步制造工藝后晶圓產(chǎn)品的加工參數(shù)是否達(dá)到設(shè)計(jì)的要求或者存在影響良率的缺陷，半導(dǎo)體后道測(cè)試設(shè)備主要是用在晶圓加工之后、封裝測(cè)試環(huán)節(jié)內(nèi)，目的是檢查芯片的性能是否符合要求，屬于電性能的檢測(cè)。聯(lián)訊儀器提供晶圓老化及半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試機(jī)等集成解決方案，能夠滿足客戶日益增長(zhǎng)的多樣化需求。
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